http://www.gic.kyushu-u.ac.jp/hattori/%E5%8E%9F%E7%A8%BF.pdf
大型パネル向け校正メモリー補償システム
このシステムでは，まず各画素に流れる電流を電源線より測定し，その結果をメモリーに蓄積する．そして，このデータを用いて各画素のTFT特性のバラツキ・特性シフトを演算素子でデータ信号に加え輝度バラツキを校正する回路構成になっている．
ここで電流を測定するタイミングであるが，低温ポリシリコン(LTPS) TFTの場合は特性シフトが小さいので，工場出荷時に一度測定するだけでバラツキは補償される．したがって，電流測定素子はパネルに実装せず出荷時に外部回路で測定することができる．
またこの場合，電流を測定するよりも輝度を測定してそのデータを扱う方がOLEDのバラツキも含まれるので，より高精度に補償できる．この輝度をフィードバックするシステムが正に先に述べた特許[2]の内容である．
しかし，a-Si TFTの場合は閾値電圧シフトが輝度補償の対象であるため，随時TFTの特性を測定する必要がある．よって電流測定システムのパネル上への実装は必須である．
また，その測定のタイミングは閾値電圧シフトが非常にゆっくりと起こるため，毎フレームごとに測定する必要は無い．この頻度がどの程度必要であるかは議論のあるところであるが，測定に時間がかかる場合は，電源投入時のみに測定することも可能である．
また，電源投入後，パネル温度が影響を与える場合はTFTの特性が変化するためパネル駆動中に電流を測定するシステムが必要となる